От JTAG к IJTAG: эволюция аппаратного тестирования

От JTAG к IJTAG: зачем понадобился новый стандарт аппаратного тестирования На современном кристалле уживаются десятки блоков-ядер от разных поставщиков, и каждый нужно проверить. Классический подход соединяет все их сканирующие цепочки в одну гигантскую последовательную цепь, а дальше упирается в арифметику. Время прогона растёт пропорционально числу триггеров, а на чипе с миллиардами транзисторов это уже часы, а не секунды. И это лишь одна из четырёх проблем, в которые упёрся привычный интерфейс. Нельзя гонять тест на одном ядре, не трогая остальные, потому что в единой цепи все они включены последовательно. А добавление нового блока перетасовывает положение каждой цепочки и заставляет пересматривать все тестовые паттерны заново. Разберём, как активную сканирующую цепь научились собирать динамически под нужное ядро одним битом.